TH2851系列阻抗分析儀是常州同惠電子采用當(dāng)前先進(jìn)的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器，為國(guó)產(chǎn)阻抗測(cè)試儀器的最新高度。
TH2851系列阻抗分析儀徹底顛覆了傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面，基于Windows10操作系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面，讓測(cè)試更智能、更簡(jiǎn)便。
TH2851系列阻抗分析儀也徹底超越了國(guó)外同類儀器120MHz的頻率瓶頸；解決了國(guó)外同類儀器只能分析、無(wú)法單獨(dú)測(cè)試的缺陷；中英文操作界面也解決了國(guó)外儀器僅有英文界面的尷尬；采用單測(cè)和分析兩種界面，讓測(cè)試更簡(jiǎn)單。
快達(dá)2.5ms的測(cè)試速度、及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
A. 高精度
自動(dòng)平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-130MHz頻率、1mΩ-100M的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的測(cè)量精度，其中最高精度達(dá)0.08%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測(cè)量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。
B. 高穩(wěn)定性和高一致性
下圖是在速度5、測(cè)試頻率1MHz，測(cè)量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）
C. 高速度
D. 10.1寸大屏，四種測(cè)量參數(shù)，讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺
10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口，帶來(lái)的是無(wú)以倫比的操作便捷性。
大屏幕帶來(lái)更多的好處是，可以把所有測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來(lái)絕不擁擠和雜亂，同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù)，四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測(cè)試參數(shù)
E. 增強(qiáng)的列表掃描功能
可以最多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描，每個(gè)點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測(cè)試頻率、測(cè)試電壓、直流偏置等測(cè)試條件。
F. 強(qiáng)大的分析圖形界面
最多通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法
G.分段掃描功能
最多可以4通道同時(shí)顯示，每個(gè)通道可以最多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個(gè)掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描，掃描時(shí)可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個(gè)頻率段參數(shù)的掃描需求。
如晶體諧振器需要測(cè)試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描共呢個(gè)可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測(cè)量，無(wú)需掃描不相關(guān)頻率。
H.強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力
TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力，可以通過光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能：
1. 讀取測(cè)量結(jié)果的數(shù)值（作為絕對(duì)數(shù)值或者相對(duì)于參考點(diǎn)的相對(duì)值）
2. 查找曲線上的特定點(diǎn)（光標(biāo)查找）
3. 分析曲線測(cè)量結(jié)果，計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放
TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個(gè)光標(biāo)，包括了參考光標(biāo)。
每個(gè)光標(biāo)有一個(gè)激勵(lì)值（坐標(biāo)系 X 軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）和響應(yīng)值（坐標(biāo)系 Y 軸對(duì)應(yīng)的數(shù)值）。
光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測(cè)量點(diǎn)：最大值、最小值
峰谷值： 峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標(biāo)左側(cè)最近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)最近的峰谷值、多重峰谷值
目標(biāo)值： 距離光標(biāo)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)最近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)最近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值
G.強(qiáng)大的圖形分析功能
1） 曲線分選功能
可以對(duì)掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測(cè)試值進(jìn)行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。
2）等效電路分析測(cè)試
現(xiàn)實(shí)生活中不同類型的器件可以被等效成簡(jiǎn)單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測(cè)試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。
可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測(cè)量的阻抗曲線進(jìn)行對(duì)比，還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。
等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用
3） 晶體振蕩器分析
對(duì)壓電陶瓷等晶體進(jìn)行測(cè)量以及性能分析，測(cè)量計(jì)算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。
4） 曲線軌跡對(duì)比
曲線軌跡對(duì)比用于對(duì)被測(cè)件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量，所有曲線顯示在同一個(gè)坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用：
a) 針對(duì)多種不同被測(cè)件
對(duì)比不同測(cè)量條件下的曲線軌跡
設(shè)置不同的頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值
b) 針對(duì)同一個(gè)被測(cè)件
對(duì)比同一個(gè)條件下測(cè)量的多次測(cè)量結(jié)果重復(fù)性
設(shè)置不同頻率點(diǎn)，計(jì)算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測(cè)量值。
F.標(biāo)配附件
F.選配附件
